Microscopia elettronica in scansione per metallurgisti

La microscopia elettronica in scansione, oltre ad essere una tecnica di microscopia con elevato potere risolutivo, fornisce un’ampia gamma di possibili informazioni microanalitiche grazie all’accoppiamento della colonna elettronica del microscopio elettronico in scansione (Scanning Electron Microscope – SEM) con rilevatori di vari segnali che emergono dall’interazione del fascio elettronico con la materia. È così possibile indagare la morfologia nella micro- e nano-scala di superfici piane o variamente strutturate di campioni massivi, e valutarne qualitativamente la composizione chimica mediante il segnale degli elettroni retrodiffusi (Back-Scattered Electrons – BSE) o quantitativamente mediante la spettroscopia a dispersione di energia (Energy Dispersion Spectroscopy - EDS) e di lunghezza d’onda (Wavelength Dispersion Energy - WDS), ed anche analizzare la struttura cristallografica superficiale di campioni massivi con l’analisi della diffrazione da elettroni retrodiffusi (Electron Back-Scattered Diffraction - EBSD). 

Inoltre, l’evoluzione tecnologica ha ampliato la gamma delle soluzioni operative, rendendo possibile l’osservazione di campioni sottili in trasmissione in scansione (Scanning Transmission Electron Microscopy - STEM), o l’osservazione di campioni non conduttivi a pressioni prossime a quelle ambiente o in atmosfere controllate. Tuttavia, le potenzialità di un SEM possono non essere sfruttate pienamente, qualora non si abbia una adeguata conoscenza della struttura di questo strumento, dei fenomeni di interazione degli elettroni primari con la materia, e dei limiti delle varie tecniche di osservazione. Di fatto, la mancanza di conoscenza dei fondamenti della fisica dell’interazione degli elettroni con la materia e delle tecniche di acquisizione dei vari segnali può portare ad una errata interpretazione dei risultati, o limitare la piena fruizione delle potenzialità dello strumento, mentre l’importanza di un corretto allineamento dello strumento che non è avulsa dalla conoscenza della struttura del SEM, è spesso sottovalutata. 

Giunto alla quarta edizione, il corso “Microscopia elettronica in scansione per metallurgisti”, vuole riconfermare i contenuti che hanno caratterizzato le precedenti edizioni. Il Comitato Tecnico di Metallurgia Fisica e Scienza dei Materiali dell’AIM organizza un Corso in cui si forniscono le basi teoriche e pratiche di un corretto utilizzo del SEM, e l’introduzione alle molteplici tecniche microanalitiche ad esso integrate. L’iniziativa si rivolge a quanti, nel mondo industriale e nella ricerca, vogliono affrontare la microscopia elettronica in scansione con maggior consapevolezza, in quanto operatori del SEM, oppure perché fruitori dei risultati da esso prodotti. 

Il Corso si svolgerà in due giornate dove verranno affrontati gli aspetti teorici dello strumento SEM e delle varie tecniche microanalitiche, e le applicazioni pratiche a casi studio affrontati con differenti tipologie di strumenti. L’elemento caratterizzante del corso, ovvero la parte pratica, è stato confermato, ma con una veste del tutto nuova e speriamo gradita ai partecipanti: alle lezioni teoriche e alle dimostrazioni sui SEM da banco presenti all’evento, saranno infatti affiancate dimostrazioni in collegamento da laboratori all’avanguardia, grazie alla disponibilità di primarie aziende produttrici di SEM. Una tavola rotonda tenuta da rappresentanti delle principali case costruttrici di SEM a termine del Corso permetterà di individuare le novità nella futura diffusione commerciale del SEM e di nuove tendenze microanalitiche ad esso correlate.

Coordinatori del Corso: Giuliano Angella e Paola Bassani

Per informazioni ed iscrizioni: info@aimnet.it