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Microscopia Elettronica in Scansione

Milano c/o CNR - 18-19 giugno 2024

Il Comitato Tecnico di Metallurgia Fisica e Scienza dei Materiali di AIM organizza la quarta edizione del Corso Microscopia Elettronica in Scansione, con l'obiettivo di fornire ai partecipanti le basi teoriche e pratiche di un corretto utilizzo del SEM, e l’introduzione alle molteplici tecniche di analisi ad esso integrate. 
L’iniziativa si rivolge a quanti, nel mondo industriale e nella ricerca, vogliono affrontare la microscopia elettronica in scansione con maggior consapevolezza, in quanto operatori ed utilizzatori diretti del SEM, oppure perché fruitori dei risultati prodotti.                               

La microscopia elettronica in scansione non è ‘solo’ una tecnica di microscopia che ha un elevato potere risolutivo, consentendo di vedere anche dettagli nanometrici. Può infatti fornire anche un’ampia gamma di informazioni microanalitiche
aggiuntive ottenibili variando le modalità di osservazione e i rilevatori utilizzati. Con il SEM è possibile indagare la morfologia nella micro- e nano-scala di superfici piane o variamente strutturate, e valutarne la composizione, qualitativamente, con segnali con elettroni retrodiffusi (Back-Scattered Electrons – BSE) o in maniera più precisa con la spettroscopia a dispersione di energia e di lunghezza d’onda (EDS e WDS), ma anche la struttura cristallografica con la tecnica a diffrazione da elettroni retrodiffusi (EBSD). 
Inoltre l’evoluzione tecnologica ha ampliato la gamma delle soluzioni operative, rendendo possibile l’osservazione di campioni sottili in trasmissione (STEM), o l’osservazione di campioni anche non conduttivi a pressioni prossime a quelle ambiente (Enviromental-SEM).
Per sfruttare appieno le potenzialità di un SEM serve un'adeguata conoscenza della struttura di questo strumento e dei limiti delle varie tecniche di osservazione. L’importanza di un corretto allineamento dello strumento è spesso sottovalutata, come anche la mancanza di conoscenza dei fondamenti della fisica dell’interazione degli elettroni con la materia e delle tecniche di acquisizione dei vari segnali, può portare ad una erronea interpretazione dei risultati o limitare la piena fruizione delle potenzialità dello strumento.
Inoltre anche la modalità di preparazione dei campioni deve essere appropriata per non limitare l’indagine ed ottenere informazioni attendibili.

Il Corso si svolgerà in due giornate consecutive presso la sede di Milano, via Corti, del CNR. 
Nelle due giornate verranno affrontati gli aspetti teorici dello strumento e delle varie tecniche di analisi, e applicazioni pratiche a casi studio affrontati con differenti tipologie di strumenti.
 
Coordinatori:
Giuliano Angella e Paola Bassani
 
Il programma verrà pubblicato non appena disponibile 

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